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芯片射频传导抗扰度测试系统
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更新时间:2024-01-03  |  阅读:982

详情介绍

芯片射频传导抗扰度测试系统

产品参数:

CDG 6000/25  /CDG6000/75 

信号发生器:10kHz ~ 400MHz,调幅+调频
功率放大器:75W(100kHz~300MHz)
RF电压表:10kHz ~ 400MHz(自校准用)
6dB衰减器:100W
IEC 61000-4-6测试软件,带自校准功能,高测试等级25V,不带衰减/测试等级40V附送测试桌系统

以及低压电器产品涉及的射频传导抗扰度测试:

GB14048-2-2008 低压开关设备和控制设备 第2部分:断路器
GB14048-4-2003 低压开关设备和控制设备 机电式接触器和电动机启动器
GB14048-9-2008 低压开关设备和控制设备 第6-2部分:多功能电器(设备)控制与保护开关电器(设备)

芯片射频传导抗扰度测试系统产品介绍:

   该系统为著名的世界接收机制造厂商——德国施罗得德(Schloder)公司产品
试验配置:CDG6000堪称是自动执行传导抗扰度测试实验的选择。系统的基本配置性价比*,可以满足通用的要求,指标满足通行标准。
系统可扩展性佳,可兼容一系列的信号发生器,功率计,CDN和注入装置。基本配置分为可以分为75W和25W主机,分别提供测试等级为40V和25V的测试。我们还提供提供从M1到M5各种不同电流规格的CDN和耦合钳,可*覆盖从电源到数据线信号线的抗扰度测试。

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